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Raster-NV-Mikroskop
Das Raster-NV-Mikroskop ist ein quantenpräzises Messinstrument, das die optisch detektierte magnetische Resonanz (ODMR) von Stickstoff-Fehlstellen-Zentren in Diamant mit der Rastersondentechnik kombiniert. Es findet Anwendung in der Forschung in den Bereichen Spintronik, Multiferroika, zweidimensionale magnetische Materialien, Supraleiter und mehr.
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EASY-G 1310M Gaspyknometer
Das Gaspyknometer EASY-G 1310M bietet eine Genauigkeit von ±0,02 % und eine Wiederholgenauigkeit von ±0,01 % bei der Messung der wahren Dichte. Es verfügt über drei Probenkammern, einen integrierten 13,3"-Computer, ein integriertes Rohrleitungssystem und zwei Druckmodi (negativ/positiv). Ideal für Pulver, Batterien, Kohle, Boden und Lebensmittel, mit schnellen industriellen Qualitätskontrollfunktionen.
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Spezifisches Oberflächen- und Porosimetrie-Analysatorgerät EASY-V
Die Produkte der EASY-V-Serie nutzen das statische Volumenverfahren für spezifische Oberflächenprüfungen und Porenanalysen. Sie werden weltweit an zahlreiche Universitäten und Forschungseinrichtungen geliefert und erfreuen sich großer Beliebtheit. Die Serie ist vollautomatisiert und verfügt über eine benutzerfreundliche und leicht erlernbare Oberfläche. Die Technologie ist international zertifiziert und entspricht höchsten internationalen Standards. Ihr hervorragendes Preis-Leistungs-Verhältnis sichert die Investitionsinteressen der Anwender, und die flexible Produktkonfiguration erfüllt vielfältige Kundenbedürfnisse.
Spezifisches Oberflächen- und Porosimetrie-Analysatorgerät EASY-V Spezifischer Oberflächenanalysator PorengrößenverteilungsmessungSend Email Einzelheiten -
Climber-Serie Spezifischer Oberflächen- und Porosimetrieanalysator
Die Oberflächen- und Porengrößenanalysatoren der Climber-Serie sind für schnelle, präzise und stabile Analysen konzipiert und unterstützen die gleichzeitige Analyse von bis zu 6 Proben. Zu den wichtigsten Funktionen gehören: Prüfung der spezifischen Oberfläche und der Porengrößenverteilung von Feststoffen, Suspensionen und Pulvern. Spezifische Oberflächenanalyse ab 0,0005 m²/g. Porengrößenanalyse im Bereich von 0,35–500 nm (Präzisionsanalyse 2–500 nm; Routineanalyse 0,35–2 nm). Abschluss eines Fünf-Punkte-BET-Tests innerhalb von 20 Minuten.
Climber-Serie Spezifischer Oberflächen- und Porosimetrieanalysator Dualmodul-unabhängiger Kontrollanalysator Geräte zur Analyse von BatteriematerialienSend Email Einzelheiten -
W900 W-Band Hochfrequenz-EPR-Spektrometer
Das W900 arbeitet bei 94 GHz und bietet damit eine überragende spektrale und orientierungsbezogene Auflösung in ungeordneten Systemen. Es verfügt über eine Mikrowellenbrücke im W-Band (93,5–94,5 GHz, 30 mW CW/2 W Puls), einen supraleitenden 6-fach freien Magneten mit ±1000-Gauß-Scanspulen und einen Resonator mit hoher Güte (Q-Wert ≥4000, 93,7–94,4 GHz). In Kombination mit der EPR-ProCT-Software für automatisierte CW-/Pulsexperimente (DEER/EDNMR/ENDOR) ermöglicht es die präzise Analyse von Quantenmaterialien und Radikalen.
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EPR-Serie Spektrometer & Resonatoren
Die EPR-Serie kombiniert X-Band-CW- (EPR300) und Pulsspektrometer (EPR100) mit fortschrittlichen Resonatoren (PW-4201-DR, High-Q, Dual-Mode). Das EPR100 liefert 200 mW CW-/Pulsleistung, 500 W SSPA und eine Zeitauflösung von 4 ns; das EPR300 bietet ein Signal-Rausch-Verhältnis von 10.000:1 und eine Q-Band-Erweiterung. Die Resonatoren zeichnen sich durch eine Halbwertsbreite (FWHM) von 400 MHz (PW-4201-DR), einen Q-Faktor von ≥18.000 (High-Q) und Dual-Mode-Frequenzen aus. Ideal für Materialwissenschaften, Chemie und Quantenforschung mit automatisierten Arbeitsabläufen und Mehrkerndetektion.
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CAN400 Intelligentes Flüssigphasen-NMR-Spektrometer
Das CAN400 verfügt über einen 9,39 Tesla starken 400-MHz-Supraleitungsmagneten mit 54 mm Bohrung für höchste Homogenität. Seine verteilte Konsole unterstützt 2–8 HF-Kanäle, eine Zeitauflösung von 4 ns und softwaregesteuertes Energiemanagement. Ausgestattet mit einem automatischen Probenwechsler mit 72 Steckplätzen, einem intelligenten Touchscreen und einer Multikernsonde ermöglicht es schnelle, automatisierte Analysen. Ideal für Chemie, Energie und Pharmazie, bietet es In-situ-Experimente, Fernzugriff und vielseitige Anwendungen von der Batterieforschung bis zum Wirkstoff-Screening.
CAN400 Intelligentes Flüssigphasen-NMR-Spektrometer 400-MHz-Supraleitungsmagnet Verteilte Konsolen-NMRSend Email Einzelheiten -
SEM-X-Serie Ultrahochauflösendes Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Die SEM-X-Serie bietet bahnbrechende Auflösung (0,6 nm bei 15 kV, 1,2 nm bei 1 kV) mit Niederspannungs-Bildgebung und minimiert so Probenschäden. Sie integriert „Super-Tunnel“-Elektronenoptik, elektrostatisch-elektromagnetische Verbundlinsen und eine Zweistrahl-Verzögerungstechnologie für aberrationsfreie Ergebnisse. Zu den Merkmalen gehören ein Niedervakuummodus (10–180 Pa), eine 8-Zoll-kompatible Schleuse und Multidetektorsysteme (UD-SE/BSE, LD, LVD) für vielseitige Analysen. Ideal für die Halbleiter-, Material- und Lebenswissenschaften, bietet sie Automatisierung und Erweiterungsmöglichkeiten für Forschungsanwendungen.
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DB550 Ga+ Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Das DB550 integriert eine Ga+-FIB-Säule (Focused Ion Beam) mit einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) und verfügt über eine „Super Tunnel“-Elektronenoptik (aberrationsarme, magnetfeldfreie Linse), eine Ionenauflösung von 3 nm bei 30 kV und eine Rasterelektronenmikroskop-Auflösung von 0,9 nm bei 15 kV. Es beinhaltet einen Nanomanipulator (≤10 nm Präzision), ein Gaseinspritzsystem (Einzelgaseinspritzung, Temperaturregelung ±0,1 °C) und eine 8-Zoll-kompatible Schleuse. Ideal für die Nanofabrikation, die Halbleiterfehleranalyse und die Materialcharakterisierung mit automatisierten Arbeitsabläufen und erweiterbaren Detektoren (EDS/EBSD/STEM).
DB550 Ga+ Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Integrierte FIB-SEM-Workstation Supertunnel-ElektronenoptikSend Email Einzelheiten -
Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop
Das TH120 120-kV-Feldemissions-TEM integriert eine Schottky-Emissionskanone, eine automatische Umschaltung zwischen Parallel- und Konvergenzstrahl sowie ein symmetrisches Objektiv. Es verfügt über eine hochauflösende CMOS-Kamera, einen 4-Achsen-Tisch und integrierte Software. Unterteilte Arbeitsbereiche minimieren Interferenzen; automatisierte Arbeitsabläufe steigern die Effizienz; das upgradefähige Design erfüllt vielfältige Anforderungen in Forschung und Entwicklung.
Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop 120-kV-Feldemissions-Transmissionsmikroskop TH120 Fortschrittliche LaborbildgebungslösungSend Email Einzelheiten -
Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop HEM6000
Hochgeschwindigkeits-Scantreiber Verweilzeit: 10 ns/Pixel; Maximale Aufnahmegeschwindigkeit: 2×100M Pixel/s Elektronenfiltersystem Die SE/BSE-Signale können frei umgeschaltet werden, und das Mischungsverhältnis der Signale ist einstellbar. Vollständig elektrostatisches Hochgeschwindigkeits-Ablenksystem Es ermöglicht einen hochauflösenden Großfeldmodus. Bei einer Pixelgröße von 4 nm erreicht das maximale Sichtfeld 32 μm × 32 μm. Probenstufen-Verzögerungstechnologie Es reduziert die Landespannung der einfallenden Elektronen und verbessert gleichzeitig die Sammelleistung der recycelten Elektronen. Immersions-Elektromagnetisches Verbundobjektiv Das Magnetfeld der Objektivlinse umschließt die Probe und erzielt so geringe Aberrationen und eine hohe Auflösung.
Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop HEM6000 Industrielles Rasterelektronenmikroskop zur Halbleiterinspektion Niederspannungs-Hochauflösungs-REMSend Email Einzelheiten
