Raster-NV-Mikroskop
Das Raster-NV-Mikroskop ist ein quantenpräzises Messinstrument, das die optisch detektierte magnetische Resonanz (ODMR) von Stickstoff-Fehlstellen-Zentren in Diamant mit der Rastersondentechnik kombiniert. Es findet Anwendung in der Forschung in den Bereichen Spintronik, Multiferroika, zweidimensionale magnetische Materialien, Supraleiter und mehr.
Gerätebilder:

Links: Raster-NV-Mikroskop (rechteckige Gehäusestruktur mit vier schwarzen Füßen).
Rechts: Kryogenes Raster-NV-Mikroskop (höhere weiße Struktur mit schlanken oberen Komponenten).
Spezifikationstabelle:
Parameter | SNVM(RT) | SNVM (Kryogen) |
|---|---|---|
Magnetische Empfindlichkeit | ≤2μT/√Hz/2 | ≤5μT/√Hz/2 |
räumliche Auflösung | 10–30 nm | 10–30 nm |
Temperaturbereich | 300 K | 2 K–300 K |
Hauptfunktionen | ISO-B-Modus, Dual-B-Modus, Full-B-Modus, Löschmodus, AFM-Modus, MFM-Modus, CFM-Modus | ISO-B-Modus, Dual-B-Modus, Full-B-Modus, Löschmodus, AFM-Modus, MFM-Modus, CFM-Modus |
Magnetoptionen | 0–50 mT | 9/1/1 T |
Hauptkomponenten:
SondenkonstruktionKlein und kompakt, aber robust; hohe Belastbarkeit; hohe Erdbebensicherheit.
Optisches DesignEinfache Bedienung; leicht erweiterbar; hohe Fluoreszenz-Sammelleistung; weites Sichtfeld.

Anwendungen:
Rasternde NV-Sonde mit Arrays von Nanopillaren oder Einzelpillaren.
Zählraten: ≥300 kc/s.
Kontrast: ≥20%.

NV-Sonde



Gerätediagramm: Vertikale zylindrische Vorrichtung für kryogene Hochdruck-ODMR.

Tabelle der technischen Parameter:Parameter | Wert |
|---|---|
Scanbereich | 300 μm × 300 μm |
Druck | ≥30 GPa |
Magnetische Empfindlichkeit | ≤35μT/√Hz |
räumliche Auflösung | 500 nm |
Magnetfeld | 9/1/1 T |
Kühlmethode | Kryogen 1,5 W@4K |
Temperaturbereich | 2 K–300 K |
Temperaturauflösung | ±50 mK |
Ergebnisse unter 30 GPa:

Konfokaler ScanBlauer Hintergrund mit zwei gelb-orangenen hellen Flecken; Farbintensitätsskala enthalten.
ODMR-SpektrumX-Achse = Frequenz (MHz), Y-Achse = Kontrast; schwarze Punkte (experimentelle Daten), rote Kurve (angepasstes Modell).
Universitätsliste (zwei Spalten):
Linke Spalte: Tsinghua-Universität, City University of Hong Kong, Peking-Universität, Institut für Physik der Chinesischen Akademie der Wissenschaften, Universität für Wissenschaft und Technologie Chinas, Südchinesische Universität Ofudan, Beihang-Universität, Technische Universität Hebei, Sun-Yat-sen-Universität, Harbin Institute of Technology, Xiamen-Universität, Pädagogische Universität Hubei.
Rechte Spalte: (Implizite Fortsetzung der Universitätsnamen; die genaue Liste ist nicht vollständig angegeben, enthält aber Abkürzungen).

Miniaturansichten der Rechercheszene (9 Bilder):
Abkürzungen: CityU (City University of Hong Kong), USTC (University of Science and Technology of China), SCUT (South China University of Technology), HIT (Harbin Institute of Technology), FuDan (Fudan University), IOP CAS (Institute of Physics CAS), XMU (Xiamen University), THU (Tsinghua University), BUAA (Beihang University).
SEO-Keywords
Raster-NV-Mikroskop
Quantenpräzisionsmessung
Optisch detektierte Magnetresonanz (ODMR)
Diamant-Stickstoff-Fehlstellenzentren
Kryogenes Raster-NV-Mikroskop
Magnetische Empfindlichkeit
Räumliche Auflösung
NV-Sonde Supraleiter
Kryogenes Hochdruck-ODMR
Konfokaler Scan
ODMR-Spektrum
Forschungsfälle an Universitäten
Spintronik
Multiferroika
2D-Magnetmaterialien








