Raster-NV-Mikroskop
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Raster-NV-Mikroskop

Das Raster-NV-Mikroskop ist ein quantenpräzises Messinstrument, das die optisch detektierte magnetische Resonanz (ODMR) von Stickstoff-Fehlstellen-Zentren in Diamant mit der Rastersondentechnik kombiniert. Es findet Anwendung in der Forschung in den Bereichen Spintronik, Multiferroika, zweidimensionale magnetische Materialien, Supraleiter und mehr.

Raster-NV-Mikroskop

Gerätebilder:

Scanning NV Microscope

  • Links: Raster-NV-Mikroskop (rechteckige Gehäusestruktur mit vier schwarzen Füßen).

  • Rechts: Kryogenes Raster-NV-Mikroskop (höhere weiße Struktur mit schlanken oberen Komponenten).

Spezifikationstabelle:

Parameter

SNVM(RT)

SNVM (Kryogen)

Magnetische Empfindlichkeit

≤2μT/√Hz/2

≤5μT/√Hz/2

räumliche Auflösung

10–30 nm

10–30 nm

Temperaturbereich

300 K

2 K–300 K

Hauptfunktionen

ISO-B-Modus, Dual-B-Modus, Full-B-Modus, Löschmodus, AFM-Modus, MFM-Modus, CFM-Modus

ISO-B-Modus, Dual-B-Modus, Full-B-Modus, Löschmodus, AFM-Modus, MFM-Modus, CFM-Modus

Magnetoptionen

0–50 mT

9/1/1 T

Hauptkomponenten:

  • SondenkonstruktionKlein und kompakt, aber robust; hohe Belastbarkeit; hohe Erdbebensicherheit.

  • Optisches DesignEinfache Bedienung; leicht erweiterbar; hohe Fluoreszenz-Sammelleistung; weites Sichtfeld.

  • Scanning NV Microscope


Anwendungen:

  • Rasternde NV-Sonde mit Arrays von Nanopillaren oder Einzelpillaren.

  • Zählraten: ≥300 kc/s.

  • Kontrast: ≥20%.

  • Scanning NV Microscope

NV-Sonde

Scanning NV MicroscopeScanning NV MicroscopeScanning NV Microscope



Gerätediagramm: Vertikale zylindrische Vorrichtung für kryogene Hochdruck-ODMR.

Scanning NV Microscope

Tabelle der technischen Parameter:Parameter

Wert

Scanbereich

300 μm × 300 μm

Druck

≥30 GPa

Magnetische Empfindlichkeit

≤35μT/√Hz

räumliche Auflösung

500 nm

Magnetfeld

9/1/1 T

Kühlmethode

Kryogen 1,5 W@4K

Temperaturbereich

2 K–300 K

Temperaturauflösung

±50 mK





Ergebnisse unter 30 GPa:

Scanning NV Microscope

  • Konfokaler ScanBlauer Hintergrund mit zwei gelb-orangenen hellen Flecken; Farbintensitätsskala enthalten.

  • ODMR-SpektrumX-Achse = Frequenz (MHz), Y-Achse = Kontrast; schwarze Punkte (experimentelle Daten), rote Kurve (angepasstes Modell).


Universitätsliste (zwei Spalten):

  • Linke Spalte: Tsinghua-Universität, City University of Hong Kong, Peking-Universität, Institut für Physik der Chinesischen Akademie der Wissenschaften, Universität für Wissenschaft und Technologie Chinas, Südchinesische Universität Ofudan, Beihang-Universität, Technische Universität Hebei, Sun-Yat-sen-Universität, Harbin Institute of Technology, Xiamen-Universität, Pädagogische Universität Hubei.

  • Rechte Spalte: (Implizite Fortsetzung der Universitätsnamen; die genaue Liste ist nicht vollständig angegeben, enthält aber Abkürzungen).

  • Scanning NV Microscope

Miniaturansichten der Rechercheszene (9 Bilder):

  • Abkürzungen: CityU (City University of Hong Kong), USTC (University of Science and Technology of China), SCUT (South China University of Technology), HIT (Harbin Institute of Technology), FuDan (Fudan University), IOP CAS (Institute of Physics CAS), XMU (Xiamen University), THU (Tsinghua University), BUAA (Beihang University).

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