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HAST Chamber PC-Serie – Hochbeschleunigte Stresstestgeräte
Die HAST Chamber PC-Serie nutzt ein exklusives Zweikammer-Design für erhöhte Prüfgenauigkeit und -sicherheit. Sie zeichnet sich durch einen breiten Temperaturbereich (105,0 °C – 151,4 °C) und eine Feuchtigkeitsregelung (65–100 % rF) aus, verfügt über eine elektrische Schubladentür und ermöglicht Mehrkanal-Spannungsprüfungen. Die Fernüberwachung erfolgt über Touchscreen und RS-485/232C-Schnittstellen. Die nach ISO 13485 zertifizierte und mit einem doppelten Überdruckschutz ausgestattete Prüfkammer erfüllt die Norm IEC 60068-2-66 und beschleunigt die Zuverlässigkeitsvalidierung von Halbleitern und elektronischen Bauteilen erheblich.
HAST Chamber PC-Serie – Hochbeschleunigte Stresstestgeräte Hochbeschleunigter Stresstest DruckbehälterzertifizierungSend Email Einzelheiten -
3D-Topografiemesssystem der MTS-Serie
Die MTS-Serie ermöglicht schnelle und präzise 3D-Oberflächenmessungen mittels spektraler Konfokaltechnologie mit einer Auflösung von 20 nm in Z-Richtung. Sie verfügt über eine automatisierte 4-Achsen-Plattform, eine Abtastrate von 6000 Hz und intelligente Software mit Q-DTS/AI-Integration. Die Serie unterstützt eine Vielzahl von Materialien, darunter transparente, reflektierende und raue Oberflächen. Sie eignet sich ideal für die Halbleiter-, Automobil- und Elektronikindustrie zur Erkennung von Unebenheiten, zur Messung von Rillen und zur Oberflächenanalyse mit außergewöhnlicher Präzision und Effizienz.
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ECM-100 Erweiterter elektrochemischer Migrationstester
Das ECM-100 bietet unübertroffene Genauigkeit bei elektrochemischen Migrationsprüfungen mit vollständig unabhängiger Messung pro Kanal (16 ms Messgeschwindigkeit), stufenlosem Spannungsbereich von 1–300 V und Strombegrenzung auf 700 μA. Sein All-in-One-Design integriert HAST/Kammersteuerung, Datenspeicherung auf CF-Karte und automatisierte Analyse gemäß JIS/ISO-Standards. Dank der Skalierbarkeit auf 40–400 Kanäle, doppelt geschirmten Kabeln und Selbstkalibrierung gewährleistet es die zuverlässige Erkennung von Isolationsschäden in Anwendungen der Elektronik-, Automobil- und Luft- und Raumfahrtindustrie.
ECM-100 Erweiterter elektrochemischer Migrationstester Hochpräzises Isolationswiderstands- und Dendritenwachstumsanalysesystem HAST-Kammer-integrierter TesterSend Email Einzelheiten
