Metallographische Mikroskope in wissenschaftlicher Qualität: RX43M, RX53M, RX63M
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Metallographische Mikroskope in wissenschaftlicher Qualität: RX43M, RX53M, RX63M

Die wissenschaftlichen Metallographiemikroskope der RX-Serie (RX43M, RX53M, RX63M) bieten unübertroffene Präzision für die Materialanalyse. Ausgestattet mit fortschrittlichen optischen Systemen, Multimodus-Beobachtung (Hellfeld/Dunkelfeld/Polarisation/DIC), kodierten Objektivkonvertern und 4K/USB 3.0-Bildgebung gewährleisten sie eine genaue mikrostrukturelle Untersuchung. Ideal für Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Industrielabore, vereinen diese Modelle Modularität, Ergonomie und hochauflösende Bildgebung für Metalle, Halbleiter und Verbundwerkstoffe.

Metallographische Mikroskope in wissenschaftlicher Qualität: RX43M, RX53M, RX63M

Die wissenschaftlichen Metallographiemikroskope der RX-Serie – bestehend aus RX43M, RX53M und RX63M – wurden entwickelt, um den hohen Anforderungen der Materialwissenschaft, der industriellen Qualitätskontrolle und der Forschung und Entwicklung gerecht zu werden. Jedes Modell vereint modernste Optik, intelligente Software und ein benutzerfreundliches Design für präzise mikrostrukturelle Analysen in vielfältigen Anwendungsbereichen.

Scientific-Grade Metallographic Microscopes: RX43M

Fortschrittliche optische Systeme

Alle Mikroskope der RX-Serie verwendenoptische Systeme mit unendlicher Konjugation und FarbkorrekturSie gewährleisten scharfe, kontrastreiche Bilder mit minimaler chromatischer Aberration. Die RX43M verfügt über ein invertiertes Bild mit einem trinokularen Beobachtungstubus (Pupillenabstand 50–76 mm, Strahlteilung 100:0/50:50), während die RX53M/RX63M aufrechte/invertierte Optionen mit ähnlichen ergonomischen Einstellmöglichkeiten bieten. Die RX63M zeichnet sich durch ihreOMT unendlich parfokal korrigiertes optisches System (60 mm)Sie bieten eine außergewöhnliche Farbtemperaturstabilität und eine hochintensive weiße LED-Beleuchtung für gleichbleibende Ergebnisse.

 RX53M

Multimodale Beobachtung & Flexibilität

Die Serie unterstützt vielseitige Beobachtungsmodi:Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und DIC (Differential Interferenzkontrast)RX43M ermöglicht die detaillierte Analyse von Oberflächenstruktur, Defekten und Materialheterogenität und zeichnet sich durch seine einfache Bedienbarkeit aus.HelligkeitsspeicherfunktionDie automatische Anpassung der Beleuchtung beim Objektivwechsel reduziert die visuelle Ermüdung. Das modulare Design der RX53M ermöglicht die Anpassung an spezifische Aufgaben (z. B. durch Hinzufügen von Polarisationsfiltern oder DIC-Modulen), während die RX63M mit einem niedrig positionierten Fokussiermechanismus (35 mm Grobtrieb, 0,001 mm Feineinstellung) die Ergonomie in den Vordergrund stellt.

 RX63M

Mikrografie

Scientific-Grade Metallographic Microscopes: RX43M

Mikrografie

 RX53M

Mikrografie

 RX63M

Mikrografie

Kodierte Objektivumwandler & Präzisionsmechanik

Ein zentrales Highlight ist diekodierter ObjektivrevolverDie Hardwareeinstellungen werden mit der Bildgebungssoftware (z. B. OmiMetrix) integriert. Dadurch werden die Kalibrierungswerte beim Objektivwechsel automatisch aktualisiert, wodurch Messfehler vermieden werden. Die Modelle RX43M/RX53M verfügen über ein elektrisches/konvertiertes 5-Loch-Dunkelfeld-Revolverobjektiv (mit DIC-Steckplätzen), während das Modell RX63M einen Konverter der Serie CFI60MM-FL verwendet (z. B. 5x/0,15 NA, 100x/1,25 NA Öl). Alle Modelle sind mit Hochleistungsobjektiven ausgestattet: Das RX43M bietet PLAN APO-Semi-Apochromat-Objektive (5x–100x), das RX53M verfügt über Semi-/Apochromat-Objektive mit großem Arbeitsabstand (5x–100x) und das RX63M verwendet CFI60MM-FL-Dunkelfeldobjektive für überragende Auflösung.

Bildgebungs- und Softwareintegration

Die Serie unterstützt mehrere Bildgebungssysteme:4K HD, USB 3.0 PC-basiert, erweiterte Schärfentiefe, Fusion, hochpräzise Messung und metallografische AnalysesystemeDas Modell RX43M ist mit einem 21,5-Zoll-Monitor für digitale Echtzeitausgabe ausgestattet, während die Modelle RX53M/RX63M über 2,15-Zoll-Displays (150- bis 3000-fache digitale Vergrößerung) verfügen. Die Softwarepakete umfassen professionelle Mess-, Kornanalyse-, Porositätsbewertungs- und schweißspezifische Werkzeuge mit automatischer Berichtserstellung zur Einhaltung von Vorschriften.

Technische Spezifikationen & Haltbarkeit

  • VergrößerungOptisch 50–1000x (RX53M/RX63M), digital bis zu 3000x (RX63M); RX43M erweiterbar auf 1500x mit Monitoren.


  • Bühne: Die RX43M verfügt über einen 240x175mm mechanischen Tisch (75x50mm Verfahrweg); RX53M/RX63M verwenden 4-Zoll-Tische (105x102mm Verfahrweg) mit X/Y-Koaxialverstellung.


  • Beleuchtung: 10W einstellbare LED (Transmission/Reflexion), Köhler-Beleuchtung und Filterschlitze (z.B. Polarisationsfilter, ND-Filter).


  • HaltbarkeitAntivibrationsstufen, abgedichtete optische Pfade und eine LED-Lebensdauer von 5 Jahren (gemessen in über 3 Millionen Fällen) gewährleisten einen industriellen 24/7-Einsatz.


Anwendungen

Ideal für die Prüfung von Metallen (Kornstruktur, Brüche), Halbleitern (Waferdefekte), Verbundwerkstoffen (Schichtablösung) und Elektronik (Leiterbahnen). Der RX43M eignet sich für die routinemäßige Qualitätskontrolle, der RX53M ist hervorragend für modulare Forschung und Entwicklung geeignet, und der RX63M wird bevorzugt für hochpräzise akademische Forschung eingesetzt.

Wählen Sie aus drei Modellen—RX43M (benutzerfreundliche Schnellsteuerung), RX53M (modulare Vielseitigkeit) oder RX63


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