C-SAM/SAT (Rasterakustisches Mikroskop)
C-SAM/SAT ermöglicht zerstörungsfreie Ultraschallbildgebung mit einer Bandbreite von 5–500 MHz, einer Scangeschwindigkeit von 1200 mm/s und verschiedenen Betriebsmodi (manuell/halbautomatisch/automatisch). Die SAM Auto Line ermöglicht die automatisierte Fehlererkennung (Lunker, Delaminationen) für IGBT/MEMS und umfasst Palettenzirkulation, automatische Prüfsoftware und robotergestützte Handhabung – für eine präzise und effiziente Qualitätskontrolle von Halbleitern und Medizinprodukten.
Produktdetails
DerC-SAM/SAT (Rasterakustisches Mikroskop)Das von SBT entwickelte Verfahren revolutioniert die zerstörungsfreie Qualitätskontrolle für opake Materialien in der Halbleiterindustrie, der Medizintechnik und der modernen Fertigung. Unter dem Motto „Qualität sichtbar machen“ visualisiert es mithilfe von Hochfrequenz-Ultraschall innere Defekte wie Hohlräume, Blasen, Einschlüsse und Delaminationen.
Technische Spezifikationen:
Physikalische DimensionenGerätegröße 1100 mm × 1020 mm × 1550 mm; Spülbeckengröße 645 mm × 750 mm × 155 mm.
ScanleistungEffektiver Messbereich 400 mm × 320 mm × 120 mm; maximale Geschwindigkeit 1200 mm/s; empfohlene Auflösung 1–4000 μm.
Kerntechnologie: 5–500 MHz Sende-/Empfangsbandbreite, 1 GHz/s DAQ-Abtastung und integriertes Wasser-Abwassersystem für einen stabilen Betrieb.
FlexibilitätUnterstützt manuelle, halbautomatische und automatische (Online-)Lademodi.
Modellvariationen:
SAM-LinieStandardmodell für vielseitige Inspektionsanforderungen.
SAM Auto Line: Fortschrittliche, automatisierte Version mit hellgrauem Gehäuse und blauen Akzenten, transparenten Frontblenden und internen Roboterarmen für die Palettenhandhabung. Der Arbeitsablauf umfasstBeladung → Scannen (Ultraschallsystem US600) → Entladung → Palettenumlauf, wodurch ein kontinuierlicher Betrieb ermöglicht wird.
AnwendungenWeit verbreitet für IGBT/MOSFET-Module, Kühlkörper, Chips, polykristalline Diamantkompakte, Keramik und MEMS. Die SAM Auto Line zeichnet sich durch hervorragende IGBT-Inspektion, Bondprüfung und MEMS-Analyse aus.Softwarepaket zur automatischen FehlerprüfungDas wertet ganze Module aus und reduziert so menschliche Fehler.
VorteileDas System kombiniert hohe Auflösung (Defekterkennung im Submikrometerbereich) mit schnellem Scannen und gewährleistet so die Einhaltung strenger Industriestandards. Dank seines modularen Designs lässt es sich an verschiedene Produktionslinien anpassen, während die automatisierte SAM Auto Line den Durchsatz im Vergleich zu manuellen Systemen um 30 % steigert.
SEO-Keywords
Rasterakustisches Mikroskop, C-SAM/SAT, SAM-Automatiklinie, automatisierte Inspektion, zerstörungsfreie Prüfung, Ultraschallprüfung, Fehlererkennung, IGBT-Prüfung, MEMS-Prüfung, Bondprüfung, Ultraschallabtastung, Palettenzirkulation, Halbleiter-Qualitätskontrolle, Qualitätskontrolle von Medizinprodukten, Hohlraumerkennung, Delaminationsanalyse
