Intelligentes Reinheitsanalysesystem CIS30-S
Das CIS30-S-System revolutioniert die Reinheitsanalyse durch intelligente Ein-Klick-Bedienung und ermöglicht dank der Einzelscan-Identifizierung von Metall- und Nichtmetallpartikeln eine um 50 % schnellere Analyse. Es verfügt über patentierte digitale Beleuchtungstechnologie, automatische Vergrößerungserkennung und erfüllt die Normen ISO 16232/VDA 19. Automatische Schwellenwerteinstellung, anpassbare Berichterstellung und rückführbare Messergebnisse mit zertifizierten Referenzmaterialien sind ebenfalls möglich. Ideal für die Qualitätskontrolle in der Automobil-, Halbleiter- und Präzisionsfertigung, bietet es umfassende Partikelgrößen-, Verteilungs- und 3D-Topografieanalysen mit Laborgenauigkeit.
Intelligente Analysetechnologie
Das intelligente Reinheitsanalysesystem CIS30-S stellt einen Durchbruch in der Automatisierungstechnologie dar und integriert fortschrittliche optische Bildgebung, intelligente Algorithmen und automatisiertes Workflow-Management. Dank seiner innovativen Ein-Klick-Bedienung vereinfacht dieses System die herkömmliche Mikroskopie und ermöglicht professionelle Reinheitsanalysen für Anwender aller Qualifikationsstufen.
Die Kernintelligenz basiert auf mehreren bahnbrechenden Technologien.patentiertes digitales Beleuchtungssystem(Patent Nr.: ZL 201721784091.X) ermöglicht die gleichzeitige Identifizierung von Metall- und Nichtmetallpartikeln in einem einzigen Scan und reduziert die Analysezeit im Vergleich zu herkömmlichen Methoden um 50 %.intelligente VergrößerungserkennungDie Messskalen werden beim Objektivwechsel automatisch kalibriert, wodurch eine gleichbleibende Genauigkeit über verschiedene Vergrößerungsstufen hinweg gewährleistet wird. Dies wird ergänzt durchSchwellenwerteinstellungdas den VDA19-Spezifikationen entspricht und menschliche Fehler bei der Partikelerkennung und -klassifizierung ausschließt.
Erweiterte Bildgebungsfähigkeiten
Das Herzstück des CIS30-S ist ein hochentwickeltes optisches System, das speziell für die Reinheitsanalyse entwickelt wurde. Es verfügt über eine forschungstaugliche, unendlichkeitskorrigierte Optik mit einem Zoomfaktor von 12,5:1 und kann Partikel bis zu einer Größe von 15 µm gemäß den Normen ISO 16232-7 und VDA 19.1 detektieren. Das Bildgebungssystem nutzt eine hochauflösende Industriekamera (Sony IMX265-Sensor, 2064 × 1544 Pixel) mit Global-Shutter-Technologie, um scharfe, verzerrungsfreie Bilder mit 53 Bildern pro Sekunde aufzunehmen.
Die Beleuchtungstechnologie des Systems setzt Maßstäbe in der Partikelanalyse.intelligentes digitales BeleuchtungssystemDas System bietet sowohl Standard- als auch Polarisationsbeleuchtung und ermöglicht so eine klare Unterscheidung zwischen metallischen und nichtmetallischen Partikeln anhand ihrer Reflexionseigenschaften. Metallische Partikel erscheinen unter Standardbeleuchtung reflektierend, unter polarisiertem Licht jedoch dunkel, während nichtmetallische Partikel unter beiden Beleuchtungsbedingungen ein gleichbleibendes Erscheinungsbild aufweisen. Diese Dual-Mode-Analyse gewährleistet eine präzise Materialklassifizierung ohne die Notwendigkeit mehrerer Scans.
Funktionen für automatisierte Arbeitsabläufe
Das CIS30-S wandelt komplexe Analyseverfahren in einen optimierten, automatisierten Prozess um.Intelligenter Ein-Klick-ModusIntegriert alle Analyseschritte – vom Scannen und der Partikelerkennung bis hin zur Klassifizierung und Berichterstellung – in einen einzigen Arbeitsgang. Dies umfasst automatisches Fokussieren, Tischbewegung, Bildaufnahme und Datenanalyse, wodurch der Schulungsaufwand für die Bediener deutlich reduziert wird und konsistente Ergebnisse für mehrere Benutzer gewährleistet sind.
Fortschrittliche Softwarealgorithmen bilden die Grundlage für die Analysefähigkeiten des Systems. Die Software umfasst:automatische PartikelerkennungDas System unterscheidet zwischen metallischen Partikeln, nichtmetallischen Verunreinigungen und Fasern anhand vordefinierter Kriterien (z. B. Länge ≥ 100 μm, Aspektverhältnis >10 zur Faseridentifizierung). Es unterstützt mehrere Partikelgrößenbestimmungsalgorithmen und ermöglicht es Anwendern, benutzerdefinierte Analysestandards zu definieren, die über die integrierten Protokolle ISO 16232 und VDA 19 hinausgehen.BrückenarchitekturVerwaltet alle Projektdaten und ermöglicht so eine einfache Überprüfung, Bearbeitung und erneute Analyse mit verschiedenen Parametern.
Messgenauigkeit und Rückführbarkeit
Die Genauigkeit wird durch mehrere Validierungsmechanismen sichergestellt. Das System umfasstzertifizierte ReferenzmaterialienMit Drittzertifikaten, rückführbar auf nationale und internationale Standards. Diese Referenzstandards enthalten Partikel mit einer Größe von 50–1000 µm, die über eine Fläche von 47 mm verteilt sind und so die regelmäßige Überprüfung der Geräteperformance und der Messkonsistenz ermöglichen. Das automatisierte Kalibriersystem gewährleistet die Messgenauigkeit über die Zeit und verfügt über integrierte Werkzeuge zur Skalenverifizierung und Hintergrundkorrektur.
Das System3D-AnalysefunktionenDas System liefert umfassende topografische Informationen, die über die reine Partikelzählung hinausgehen. Dazu gehören Höhenmessung, Volumenberechnung und Oberflächenanalyse, die insbesondere für das Verständnis des Partikelverhaltens in praktischen Anwendungen von großem Wert sind. Der große Scantisch (Verfahrweg 125 × 75 mm) ermöglicht die Analyse des gesamten Filters mit einer Auflösung von 0,1 μm, während das elektrische Objektivrevolverteil eine präzise Positionierung für die Analyse an mehreren Stellen gewährleistet.
Anpassbare Berichts- und Datenverwaltung
Flexible Berichtsfunktionen erfüllen vielfältige organisatorische Anforderungen. Das System generiert umfassende Analyseberichte, einschließlich Partikelgrößenverteilung, Materialklassifizierung und Kontaminationsquellen. Die Berichte lassen sich an spezifische Kundenvorlagen anpassen und in verschiedenen Formaten (PDF, Excel) exportieren.Q-DTS-Datenverbindungsplattformermöglicht die nahtlose Integration mit Manufacturing Execution Systems (MES) und unterstützt Echtzeit-Qualitätsüberwachung und Trendanalyse.
Die Projektmanagementfunktionen ermöglichen eine organisierte Datenverarbeitung. Das System archiviert vollständige Analyseprojekte inklusive Originalbildern, Messdaten und Analyseparametern. Die erweiterte Suchfunktion ermöglicht den schnellen Abruf anhand von Projektname, Datum oder spezifischen Kriterien. Sicherheitsfunktionen gewährleisten die Integrität der Ergebnisse; Audit-Trails protokollieren alle Analyseschritte und Parameteränderungen.
Anwendungen und Branchenkonformität
Das CIS30-S bedient zahlreiche Branchen mit spezifischen Compliance-Anforderungen. In der Automobilfertigung gewährleistet es die Bauteilreinheit gemäß VDA19-Standard. Anwendungen in der Halbleiterindustrie profitieren von seiner Präzision bei der Erkennung von Verunreinigungen im Mikrometerbereich. Das System unterstützt außerdem die Luft- und Raumfahrt, die Medizintechnik und die Feinmechanik, wo die Kontrolle von Partikelverunreinigungen von entscheidender Bedeutung ist.
Regelmäßige Wartung und Kalibrierung gewährleisten langfristige Zuverlässigkeit. Der modulare Aufbau des Systems ermöglicht einen einfachen Komponentenaustausch und Upgrades, während die stabile mechanische Plattform und die temperaturkompensierte Optik die Präzision unter verschiedenen Umgebungsbedingungen sicherstellen. Umfassende Schulungs- und Supportressourcen helfen Anwendern, die Systemauslastung zu optimieren und die Akkreditierungsanforderungen zu erfüllen.
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