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Metallographische Mikroskope in wissenschaftlicher Qualität: RX43M, RX53M, RX63M
Die wissenschaftlichen Metallographiemikroskope der RX-Serie (RX43M, RX53M, RX63M) bieten unübertroffene Präzision für die Materialanalyse. Ausgestattet mit fortschrittlichen optischen Systemen, Multimodus-Beobachtung (Hellfeld/Dunkelfeld/Polarisation/DIC), kodierten Objektivkonvertern und 4K/USB 3.0-Bildgebung gewährleisten sie eine genaue mikrostrukturelle Untersuchung. Ideal für Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Industrielabore, vereinen diese Modelle Modularität, Ergonomie und hochauflösende Bildgebung für Metalle, Halbleiter und Verbundwerkstoffe.
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